在 Configuration(配置)页面上启用 IEC(元素间干扰校正)选项卡后,单击 IEC 选项卡可访问 IEC 页面。
若一种元素与另一种元素的光谱重叠,可使用元素间干扰校正来为分析物谱线建立元素间干扰校正。
本页面提供以下内容:
IEC 可用于校正光谱干扰。下图显示了一种元素对另一种元素的光谱干扰。IEC 的工作原理是:测量已知干扰物在受其影响的分析物波长处的响应,以及在可以单独测量且无干扰的该干扰物波长处的响应。此比率可用于计算和应用干扰校正因子。
可以在“元素”页面上选择 IEC 干扰物波长来触发超量程稀释。
要对 IEC 干扰物波长启用反应稀释,请执行以下操作:
在配制 IEC 的分析物和干扰物溶液时,请考虑以下事项:
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即使标样中混合在一起且浓度相同的元素彼此之间的影响仅为 0.1%,也可能需要进行 IEC 校正。这是因为它们在样品中的相对浓度可能会更高。 |
离峰背景校正是应用 IEC 时的推荐背景校正方法。其他背景校正方法与 IEC 结合使用时会尝试校正光谱重叠,并可能导致不准确或不一致的结果。
为了简单起见,应优先使用 FACT 而不是 IEC。
FACT 可以与 IEC 结合使用,但是不建议在同一分析物谱线上同时使用这两种方式。
影响 IEC 测量的条件包括:
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一旦确定了 IEC 因子,请勿更改泵速或等离子体和气流参数。 |
IEC 校准可以确定 IEC 因子以及干扰物和分析物的分析校准。
如需查看干扰物的光谱数据和校准数据(例如校准错误),请单击右上方窗格左侧的单个光谱视图图标 () 以及带有结果的运行序列表下方的左下方表格中的校准数据图标 (
)。校准曲线图在光谱图下方。
IEC 因子确定干扰物信号对分析物信号的影响程度。因此,用于确定 IEC 因子的分析物和干扰物浓度并不重要,只要浓度在所选波长的线性动态范围内即可。
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如果使用内标校正,则在计算 IEC 因子之前会应用此校正。 |
IEC 因子是指分析物波长处分析物灵敏度与干扰物灵敏度之比。
其中 s(灵敏度)= ∆ 强度 / ∆ 浓度
说明:
Fij |
是 IEC 因子,它表示在分析物波长处干扰元素对分析物元素的干扰程度 |
Si |
干扰元素在分析物波长处的灵敏度(例如,在分析物波长 Cd 214.438 nm 处观察到的干扰元素铁的灵敏度)。请注意,这里假设与无干扰波长处的干扰元素谱线的灵敏度之间存在线性关系。 |
Sj |
受干扰分析物在目标波长处的灵敏度(例如,只有 Cd 时 214.438 nm 波长处 Cd 的灵敏度) |
Si 是通过计算干扰物标样强度(在分析物波长处测得)相对于定义的干扰物标样浓度的最佳线性拟合线(通过最小二乘回归)的斜率确定的。如果校准中包括空白,则拟合线强制通过空白,如果没有空白,则拟合线强制通过原点。
Sj 是通过计算分析物标样强度(在分析物波长处测得)相对于定义的分析物标样浓度的最佳线性拟合线(通过最小二乘回归)的斜率确定的。如果校准中包括空白,则拟合线强制通过空白,如果没有空白,则拟合线强制通过原点。
IEC 因子表会显示以下结果:
As 对 Cd 288 的干扰因子为 0.00566。
完成 IEC 模块的分析后计算 IEC 因子。IEC 模块包括空白、分析物模块和干扰物模块。参见下图:
其中 1 是分析物模块,2 是干扰物模块。
随后可以在 IEC 因子表中查看 IEC 因子。
IEC 校正公式为:
可以校正给定分析物波长上的多种干扰物。所应用的校正是该分析物元素上所有干扰物影响的总和。
Cj |
在分析物波长处经 IEC 校正的溶液浓度 (j) |
Oj |
在分析物波长处观察到的溶液浓度 (j) |
Fij |
干扰因子(如前所定义),表示在分析物波长处干扰元素对分析物元素的干扰程度 |
Oi |
在干扰物的无干扰波长处观察到的溶液浓度 |
干扰物在分析物波长处对分析物信号产生影响。产生的影响的程度用 IEC 因子表示。然后可以将此因子应用于无光谱干扰波长处测得的干扰物浓度。随后将得到的结果从目标波长处测得的浓度中减去。最终得到经 IEC 校正的溶液浓度结果。
是。干扰物数据存储在工作表中,因此无需重新运行溶液即可进行完整的运行后编辑。
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如果删除了工作表中的数据,则 IEC 因子也会被删除。建议保存带有 IEC 因子的工作表,然后从保存的工作表中新建工作表以重复使用 IEC 因子。 |
IEC 因子可以编辑,也可以锁定以禁止编辑。