エラーフラグ
各濃度結果の表示に、濃度結果「フラグ」が付いていることがあります。次表に、表示される可能性のある各濃度結果フラグとその説明を示します。表中のフラグは、優先度の高い順に並べてあります。複数のエラーがフラグされたサンプル濃度結果には、最も優先度の高いフラグが表示されます。
エラーフラグは［分析］ページに表示されます。しかし、1 つのサンプルに複数のフラグが関連するときは、（前述のとおり）最も優先度の高いフラグだけが表示されます。
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フラグ |
説明 |
濃度/強度 |
測定/繰り返し |
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-- |
すべての繰り返しを除外 |
両方を使用 |
測定 |
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#### |
オーバーレンジシグナル |
両方を使用 |
繰り返し |
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エラー |
FACT モデルなし |
両方を使用 |
繰り返し |
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エラー |
内標準比の計算ができない |
両方を使用 |
測定 |
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未検量 |
セルが未検量 |
濃度 |
繰り返し |
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! |
再測定した溶液 |
両方を使用 |
測定 |
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e |
編集した溶液 |
両方を使用 |
測定 |
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x |
不完全なモデル |
両方を使用 |
繰り返し |
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o |
濃度が較正範囲を超過 |
濃度 |
繰り返し |
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u |
濃度が較正範囲未満 |
濃度 |
繰り返し |
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i |
内標準が未測定 |
両方を使用 |
測定 |
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# |
オーバーレンジ |
両方を使用 |
繰り返し |
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m |
モデル化することができません |
両方を使用 |
繰り返し |
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W |
QC スパイク失敗 |
濃度 |
測定 |
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* |
複製サンプル失敗 |
濃度 |
測定 |
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L |
LCS 失敗 |
濃度 |
測定 |
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Q |
CCV、ICV 失敗 |
濃度 |
測定 |
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N |
マトリックススパイク失敗 |
濃度 |
測定 |
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Z |
ICB、CCB 失敗 |
濃度 |
測定 |
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K |
干渉チェック標準液 A |
濃度 |
測定 |
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G |
干渉チェック標準液 AB |
濃度 |
測定 |
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E |
連続希釈 |
濃度 |
測定 |
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R |
CRDL リミットエラー |
濃度 |
測定 |
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Y |
調製ブランクエラー |
濃度 |
測定 |
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S |
QC セットアップ失敗 |
濃度 |
測定 |
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J |
LSpike 失敗 |
濃度 |
測定 |
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A1、A2... |
すべての QC サンプル失敗 |
濃度 |
測定 |
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P |
成分 - 吸入、経口、または非経口 |
濃度 |
測定 |
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CT |
コントロールのしきい値 - 吸入、経口、または非経口 |
濃度 |
測定 |
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P |
製品 - 吸入、経口、または非経口 |
濃度 |
測定 |
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b |
ラインに拡張較正範囲を上回る関連干渉がある（IEC 補正はそれでも適用される） |
濃度 |
繰り返し |
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p |
内部モデリングのみ |
濃度 |
繰り返し |
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多数のデフォルト QC 不合格フラグ名があり、「QC テストタイプと不合格フラグ」ページに一覧表示されています。 |
関連項目：